Measurement of the tt̄ production cross section in pp̄ collisions at √s = 1.96 TeV using lepton + jets events with secondary vertex b -tagging

Acosta, D.; Adelman, J.; Affolder, T.; Akimoto, T.; Albrow, M. G.; Ambrose, D.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Anikeev, K.; Annovi, A.; Antos, J.; Aoki, M.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Arguin, J. -F.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Azfar, F.; Azzi-Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bachacou, H.; Badgett, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barker, G. J.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Barone, M.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Behari, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Ben-Haim, E.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bolla, G.; Bolshov, A.; Booth, P. S. L.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Bourov, S.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canepa, A.; Casarsa, M.; Carlsmith, D.; Carron, S.; Carosi, R.; Cavalli-Sforza, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cerri, A.; Cerri, C.; Cerrito, L.; Chapman, J.; Chen, C.; Chen, Y. C.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, I.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chu, M. L.; Chuang, S.; Chung, J. Y.; Chung, W. -H.; Chung, Y. S.; Ciobanu, C. I.; Ciocci, M. A.; Clark, A. G.; Clark, D.; Coca, M.; Connolly, A.; Convery, M.; Conway, J.; Cooper, B.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Cranshaw, J.; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Currat, C.; Cyr, D.; Dagenhart, D.; Da Ronco, S.; D'Auria, S.; De Barbaro, P.; De Cecco, S.; De Lentdecker, G.; Dell'Agnello, S.; Dell'Orso, M.; Demers, S.; Demortier, L.; Deninno, M.; De Pedis, D.; Derwent, P. F.; Dionisi, C.; Dittmann, J. R.; Doksus, P.; Dominguez, A.; Donati, S.; Donega, M.; Donini, J.; D'Onofrio, M.; Dorigo, T.; Drollinger, V.; Ebina, K.; Eddy, N.; Ely, R.; Erbacher, R.; Erdmann, M.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H. -C.; Farrington, S.; Fedorko, I.; Feild, R. G.; Feindt, M.; Fernandez, J. P.; Ferretti, C.; Field, R. D.; Fiori, I.; Flanagan, G.; Flaugher, B.; Flores-Castillo, L. R.; Foland, A.; Forrester, S.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J. C.; Frisch, H.; Fujii, Y.; Furic, I.; Gajjar, A.; Gallas, A.; Galyardt, J.; Gallinaro, M.; Garcia-Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Gerberich, H.; Gerdes, D. W.; Gerchtein, E.; Giagu, S.; Giannetti, P.; Gibson, A.; Gibson, K.; Ginsburg, C.; Giolo, K.; Giordani, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Goldstein, D.; Goldstein, J.; Gomez, G.; Gomez-Ceballos, G.; Goncharov, M.; Gonzalez, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Griffiths, M.; Grosso-Pilcher, C.; Grundler, U.; Guenther, M.; Guimaraes Da Costa, J.; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S. R.; Halkiadakis, E.; Hamilton, A.; Han, B. -Y.; Handler, R.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, M.; Harr, R. F.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Hays, C.; Hayward, H.; Heider, E.; Heinemann, B.; Heinrich, J.; Hennecke, M.; Herndon, M.; Hill, C.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Hoffman, K. D.; Holloway, A.; Hou, S.; Houlden, M. A.; Huffman, B. T.; Huang, Y.; Hughes, R. E.; Huston, J.; Ikado, K.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ishizawa, Y.; Issever, C.; Ivanov, A.; Iwata, Y.; Iyutin, B.; James, E.; Jang, D.; Jarrell, J.; Jeans, D.; Jensen, H.; Jeon, E. J.; Jones, M.; Joo, K. K.; Jun, S.; Junk, T.; Kamon, T.; Kang, J.; Karagoz Unel, M.; Karchin, P. E.; Kartal, S.; Kato, Y.; Kemp, Y.; Kephart, R.; Kerzel, U.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, J. E.; Kim, M. J.; Kim, M. S.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, T. H.; Kim, Y. K.; King, B. T.; Kirby, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Knuteson, B.; B. R., Ko; Kobayashi, H.; Koehn, P.; Kong, D. J.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korn, A.; Korytov, A.; Kotelnikov, K.; Kotwal, A. V.; Kovalev, A.; Kraus, J.; Kravchenko, I.; Kreymer, A.; Kroll, J.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kuhlmann, S. E.; Kuznetsova, N.; Laasanen, A. T.; Lai, S.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lander, R.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lauhakangas, R.; Lazzizzera, I.; Le, Y.; Lecci, C.; Lecompte, T.; Lee, J.; Lee, J.; Lee, S. W.; Lefevre, R.; Leonardo, N.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Li, K.; Lin, C.; Lin, C. S.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Litvintsev, D. O.; Liu, T.; Liu, Y.; Lockyer, N. S.; Loginov, A.; Loreti, M.; Loverre, P.; R. -S., Lu; Lucchesi, D.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; Macqueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Malferrari, L.; Manca, G.; Marginean, R.; Martin, M.; Martin, A.; Martin, V.; Martinez, M.; Maruyama, T.; Matsunaga, H.; Mattson, M.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcgivern, D.; Mcintyre, P. M.; Mcnamara, P.; Ncnulty, R.; Menzemer, S.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Messina, A.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miller, L.; Miller, R.; Miller, J. S.; Miquel, R.; Miscetti, S.; Mitselmakher, G.; Miyamoto, A.; Miyazaki, Y.; Moggi, N.; Mohr, B.; Moore, R.; Morello, M.; Mukherjee, A.; Mulhearn, M.; Muller, T.; Mumford, R.; Munar, A.; Murat, P.; Nachtman, J.; Nahn, S.; Nakamura, I.; Nakano, I.; Napier, A.; Napora, R.; Naumov, D.; Necula, V.; Niell, F.; Nielsen, J.; Nelson, C.; Nelson, T.; Neu, C.; Neubauer, M. S.; Newman-Holmes, C.; Nicollerat, A. -S.; Nigmanov, T.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Oesterberg, K.; Ogawa, T.; S. H., Oh; Y. D., Oh; Ohsugi, T.; Okusawa, T.; Oldeman, R.; Orava, R.; Orejudos, W.; Pagliarone, C.; Palmonari, F.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Pauly, T.; Paus, C.; Pellett, D.; Penzo, A.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Piedra, J.; Pitts, K. T.; Plager, C.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Pope, G.; Poukhov, O.; Prakoshyn, F.; Pratt, T.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Rademacker, J.; Rakitine, A.; Rappoccio, S.; Ratnikov, F.; Ray, H.; Reichold, A.; Reisert, B.; Rekovic, V.; Renton, P.; Rescigno, M.; Rimondi, F.; Rinnert, K.; Ristori, L.; Robertson, W. J.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Rossin, R.; Rott, C.; Russ, J.; Ruiz, A.; Ryan, D.; Saarikko, H.; Sabik, S.; Safonov, A.; t. Denis R., S; Sakumoto, W. K.; Salamanna, G.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sato, K.; Savard, P.; Savoy-Navarro, A.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Scodellaro, L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semeria, F.; Sexton-Kennedy, L.; Sfiligoi, I.; Shapiro, M. D.; Shears, T.; Shepard, P. F.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Sidoti, A.; Siegrist, J.; Siket, M.; Sill, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Skiba, A.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smirnov, D.; Smith, J. R.; Snider, F. D.; Snihur, R.; Somalwar, S. V.; Spalding, J.; Spezziga, M.; Spiegel, L.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Squillacioti, P.; Stadie, H.; Stefanini, A.; Stelzer, B.; Stelzer-Chilton, O.; Strologas, J.; Stuart, D.; Sukhanov, A.; Sumorok, K.; Sun, H.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Tafirout, R.; Takach, S. F.; Takano, H.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Takikawa, K.; Tanaka, M.; Tanaka, R.; Tanimoto, N.; Tapprogge, S.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tesarek, R. J.; Tether, S.; Thom, J.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Tipton, P.; Tiwari, V.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Tonnesmann, M.; Torre, S.; Torretta, D.; Tourneur, S.; Trischuk, W.; Tseng, J.; Tsuchiya, R.; Tsuno, S.; Tsybychev, D.; Turini, N.; Turner, M.; Ukegawa, F.; Unverhau, T.; Uozumi, S.; Usynin, D.; Vacavant, L.; Vaiciulis, A.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vejcik III, S.; Velev, G.; Veszpremi, V.; Veramendi, G.; Vickey, T.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Vollrath, I.; Volobouev, I.; Von Der Mey, M.; Wagner, P.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wagner, W.; Wallny, R.; Walter, T.; Yamashita, T.; Yamamoto, K.; Wan, Z.; Wang, M. J.; Wang, S. M.; Warburton, A.; Ward, B.; Waschke, S.; Waters, D.; Watts, T.; Weber, M.; Wester III, W. C.; Whitehouse, B.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolter, M.; Worcester, M.; Worm, S.; Wright, T.; Wu, X.; Wurthwein, F.; Wyatt, A.; Yagil, A.; Yang, U. K.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yi, K.; Yoh, J.; Yoon, P.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yu, Z.; Yun, J. C.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zaw, I.; Zetti, F.; Zhou, J.; Zsenei, A.; Zucchelli, S.

doi:10.1103/PhysRevD.71.052003

We present a measurement of the tt̄ production cross section using events with one charged lepton and jets from pp̄ collisions at a center-of-mass energy of 1.96 TeV. In these events, heavy flavor quarks from top quark decay are identified with a secondary vertex tagging algorithm. From 162 pb-1 of data collected by the Collider Detector at Fermilab, a total of 48 candidate events are selected, where 13.5 ± 1.8 events are expected from background contributions. We measure a tt̄ production cross section of 5.6-1.1+1.2(stat.)-0.6+0.9(syst.) pb. © 2005 The American Physical Society.

Measurement of the tt̄ production cross section in pp̄ collisions at √s = 1.96 TeV using lepton + jets events with secondary vertex b -tagging

Acosta D.;Adelman J.;Affolder T.;Akimoto T.;Albrow M. G.;Ambrose D.;Amerio S.;Amidei D.;Anastassov A.;Anikeev K.;Annovi A.;Antos J.;Aoki M.;Apollinari G.;Arisawa T.;Arguin J. -F.;Artikov A.;Ashmanskas W.;Attal A.;Azfar F.;Azzi-Bacchetta P.;Bacchetta N.;Bachacou H.;Badgett W.;Barbaro-Galtieri A.;Barker G. J.;Barnes V. E.;Barnett B. A.;Baroiant S.;Barone M.;Bauer G.;Bedeschi F.;Behari S.;Belforte S.;Bellettini G.;Bellinger J.;Ben-Haim E.;Benjamin D.;Beretvas A.;Bhatti A.;Binkley M.;Bisello D.;Bishai M.;Blair R. E.;Blocker C.;Bloom K.;Blumenfeld B.;Bocci A.;Bodek A.;Bolla G.;Bolshov A.;Booth P. S. L.;Bortoletto D.;Boudreau J.;Bourov S.;Bromberg C.;Brubaker E.;Budagov J.;Budd H. S.;Burkett K.;Busetto G.;Bussey P.;Byrum K. L.;Cabrera S.;Campanelli M.;Campbell M.;Canepa A.;Casarsa M.;Carlsmith D.;Carron S.;Carosi R.;Cavalli-Sforza M.;Castro A.;Catastini P.;Cauz D.;Cerri A.;Cerri C.;Cerrito L.;Chapman J.;Chen C.;Chen Y. C.;Chertok M.;Chiarelli G.;Chlachidze G.;Chlebana F.;Cho I.;Cho K.;Chokheli D.;Chu M. L.;Chuang S.;Chung J. Y.;Chung W. -H.;Chung Y. S.;Ciobanu C. I.;Ciocci M. A.;Clark A. G.;Clark D.;Coca M.;Connolly A.;Convery M.;Conway J.;Cooper B.;Cordelli M.;Cortiana G.;Cranshaw J.;Cuevas J.;Culbertson R.;Currat C.;Cyr D.;Dagenhart D.;Da Ronco S.;D'Auria S.;De Barbaro P.;De Cecco S.;De Lentdecker G.;Dell'Agnello S.;Dell'Orso M.;Demers S.;Demortier L.;Deninno M.;De Pedis D.;Derwent P. F.;Dionisi C.;Dittmann J. R.;Doksus P.;Dominguez A.;Donati S.;Donega M.;Donini J.;D'Onofrio M.;Dorigo T.;Drollinger V.;Ebina K.;Eddy N.;Ely R.;Erbacher R.;Erdmann M.;Errede D.;Errede S.;Eusebi R.;Fang H. -C.;Farrington S.;Fedorko I.;Feild R. G.;Feindt M.;Fernandez J. P.;Ferretti C.;Field R. D.;Fiori I.;Flanagan G.;Flaugher B.;Flores-Castillo L. R.;Foland A.;Forrester S.;Foster G. W.;Franklin M.;Freeman J. C.;Frisch H.;Fujii Y.;Furic I.;Gajjar A.;Gallas A.;Galyardt J.;Gallinaro M.;Garcia-Sciveres M.;Garfinkel A. F.;Gay C.;Gerberich H.;Gerdes D. W.;Gerchtein E.;Giagu S.;Giannetti P.;Gibson A.;Gibson K.;Ginsburg C.;Giolo K.;Giordani M.;Giurgiu G.;Glagolev V.;Glenzinski D.;Gold M.;Goldschmidt N.;Goldstein D.;Goldstein J.;Gomez G.;Gomez-Ceballos G.;Goncharov M.;Gonzalez O.;Gorelov I.;Goshaw A. T.;Gotra Y.;Goulianos K.;Gresele A.;Griffiths M.;Grosso-Pilcher C.;Grundler U.;Guenther M.;Guimaraes Da Costa J.;Haber C.;Hahn K.;Hahn S. R.;Halkiadakis E.;Hamilton A.;Han B. -Y.;Handler R.;Happacher F.;Hara K.;Hare M.;Harr R. F.;Harris R. M.;Hartmann F.;Hatakeyama K.;Hauser J.;Hays C.;Hayward H.;Heider E.;Heinemann B.;Heinrich J.;Hennecke M.;Herndon M.;Hill C.;Hirschbuehl D.;Hocker A.;Hoffman K. D.;Holloway A.;Hou S.;Houlden M. A.;Huffman B. T.;Huang Y.;Hughes R. E.;Huston J.;Ikado K.;Incandela J.;Introzzi G.;Iori M.;Ishizawa Y.;Issever C.;Ivanov A.;Iwata Y.;Iyutin B.;James E.;Jang D.;Jarrell J.;Jeans D.;Jensen H.;Jeon E. J.;Jones M.;Joo K. K.;Jun S.;Junk T.;Kamon T.;Kang J.;Karagoz Unel M.;Karchin P. E.;Kartal S.;Kato Y.;Kemp Y.;Kephart R.;Kerzel U.;Khotilovich V.;Kilminster B.;Kim D. H.;Kim H. S.;Kim J. E.;Kim M. J.;Kim M. S.;Kim S. B.;Kim S. H.;Kim T. H.;Kim Y. K.;King B. T.;Kirby M.;Kirsch L.;Klimenko S.;Knuteson B.;Ko B. R.;Kobayashi H.;Koehn P.;Kong D. J.;Kondo K.;Konigsberg J.;Kordas K.;Korn A.;Korytov A.;Kotelnikov K.;Kotwal A. V.;Kovalev A.;Kraus J.;Kravchenko I.;Kreymer A.;Kroll J.;Kruse M.;Krutelyov V.;Kuhlmann S. E.;Kuznetsova N.;Laasanen A. T.;Lai S.;Lami S.;Lammel S.;Lancaster J.;Lancaster M.;Lander R.;Lannon K.;Lath A.;Latino G.;Lauhakangas R.;Lazzizzera I.;Le Y.;Lecci C.;LeCompte T.;Lee J.;Lee J.;Lee S. W.;Lefevre R.;Leonardo N.;Leone S.;Lewis J. D.;Li K.;Lin C.;Lin C. S.;Lindgren M.;Liss T. M.;Litvintsev D. O.;Liu T.;Liu Y.;Lockyer N. S.;Loginov A.;Loreti M.;Loverre P.;Lu R. -S.;Lucchesi D.;Lujan P.;Lukens P.;Lungu G.;Lyons L.;Lys J.;Lysak R.;MacQueen D.;Madrak R.;Maeshima K.;Maksimovic P.;Malferrari L.;Manca G.;Marginean R.;Martin M.;Martin A.;Martin V.;Martinez M.;Maruyama T.;Matsunaga H.;Mattson M.;Mazzanti P.;McFarland K. S.;McGivern D.;McIntyre P. M.;McNamara P.;NcNulty R.;Menzemer S.;Menzione A.;Merkel P.;Mesropian C.;Messina A.;Miao T.;Miladinovic N.;Miller L.;Miller R.;Miller J. S.;Miquel R.;Miscetti S.;Mitselmakher G.;Miyamoto A.;Miyazaki Y.;Moggi N.;Mohr B.;Moore R.;Morello M.;Mukherjee A.;Mulhearn M.;Muller T.;Mumford R.;Munar A.;Murat P.;Nachtman J.;Nahn S.;Nakamura I.;Nakano I.;Napier A.;Napora R.;Naumov D.;Necula V.;Niell F.;Nielsen J.;Nelson C.;Nelson T.;Neu C.;Neubauer M. S.;Newman-Holmes C.;Nicollerat A. -S.;Nigmanov T.;Nodulman L.;Norniella O.;Oesterberg K.;Ogawa T.;Oh S. H.;Oh Y. D.;Ohsugi T.;Okusawa T.;Oldeman R.;Orava R.;Orejudos W.;Pagliarone C.;Palmonari F.;Paoletti R.;Papadimitriou V.;Pashapour S.;Patrick J.;Pauletta G.;Paulini M.;Pauly T.;Paus C.;Pellett D.;Penzo A.;Phillips T. J.;Piacentino G.;Piedra J.;Pitts K. T.;Plager C.;Pompos A.;Pondrom L.;Pope G.;Poukhov O.;Prakoshyn F.;Pratt T.;Pronko A.;Proudfoot J.;Ptohos F.;Punzi G.;Rademacker J.;Rakitine A.;Rappoccio S.;Ratnikov F.;Ray H.;Reichold A.;Reisert B.;Rekovic V.;Renton P.;Rescigno M.;Rimondi F.;Rinnert K.;Ristori L.;Robertson W. J.;Robson A.;Rodrigo T.;Rolli S.;Rosenson L.;Roser R.;Rossin R.;Rott C.;Russ J.;Ruiz A.;Ryan D.;Saarikko H.;Sabik S.;Safonov A.;St. Denis R.;Sakumoto W. K.;Salamanna G.;Saltzberg D.;Sanchez C.;Sansoni A.;Santi L.;Sarkar S.;Sato K.;Savard P.;Savoy-Navarro A.;Schlabach P.;Schmidt E. E.;Schmidt M. P.;Schmitt M.;Scodellaro L.;Scribano A.;Scuri F.;Sedov A.;Seidel S.;Seiya Y.;Semeria F.;Sexton-Kennedy L.;Sfiligoi I.;Shapiro M. D.;Shears T.;Shepard P. F.;Shimojima M.;Shochet M.;Shon Y.;Shreyber I.;Sidoti A.;Siegrist J.;Siket M.;Sill A.;Sinervo P.;Sisakyan A.;Skiba A.;Slaughter A. J.;Sliwa K.;Smirnov D.;Smith J. R.;Snider F. D.;Snihur R.;Somalwar S. V.;Spalding J.;Spezziga M.;Spiegel L.;Spinella F.;Spiropulu M.;Squillacioti P.;Stadie H.;Stefanini A.;Stelzer B.;Stelzer-Chilton O.;Strologas J.;Stuart D.;Sukhanov A.;Sumorok K.;Sun H.;Suzuki T.;Taffard A.;Tafirout R.;Takach S. F.;Takano H.;Takashima R.;Takeuchi Y.;Takikawa K.;Tanaka M.;Tanaka R.;Tanimoto N.;Tapprogge S.;Tecchio M.;Teng P. K.;Terashi K.;Tesarek R. J.;Tether S.;Thom J.;Thompson A. S.;Thomson E.;Tipton P.;Tiwari V.;Tkaczyk S.;Toback D.;Tollefson K.;Tomura T.;Tonelli D.;Tonnesmann M.;Torre S.;Torretta D.;Tourneur S.;Trischuk W.;Tseng J.;Tsuchiya R.;Tsuno S.;Tsybychev D.;Turini N.;Turner M.;Ukegawa F.;Unverhau T.;Uozumi S.;Usynin D.;Vacavant L.;Vaiciulis A.;Varganov A.;Vataga E.;Vejcik III S.;Velev G.;Veszpremi V.;Veramendi G.;Vickey T.;Vidal R.;Vila I.;Vilar R.;Vollrath I.;Volobouev I.;Von Der Mey M.;Wagner P.;Wagner R. G.;Wagner R. L.;Wagner W.;Wallny R.;Walter T.;Yamashita T.;Yamamoto K.;Wan Z.;Wang M. J.;Wang S. M.;Warburton A.;Ward B.;Waschke S.;Waters D.;Watts T.;Weber M.;Wester III W. C.;Whitehouse B.;Wicklund A. B.;Wicklund E.;Williams H. H.;Wilson P.;Winer B. L.;Wittich P.;Wolbers S.;Wolter M.;Worcester M.;Worm S.;Wright T.;Wu X.;Wurthwein F.;Wyatt A.;Yagil A.;Yang U. K.;Yao W.;Yeh G. P.;Yi K.;Yoh J.;Yoon P.;Yorita K.;Yoshida T.;Yu I.;Yu S.;Yu Z.;Yun J. C.;Zanello L.;Zanetti A.;Zaw I.;Zetti F.;Zhou J.;Zsenei A.;Zucchelli S.

2005-01-01

Abstract

We present a measurement of the tt̄ production cross section using events with one charged lepton and jets from pp̄ collisions at a center-of-mass energy of 1.96 TeV. In these events, heavy flavor quarks from top quark decay are identified with a secondary vertex tagging algorithm. From 162 pb^-1 of data collected by the Collider Detector at Fermilab, a total of 48 candidate events are selected, where 13.5 ± 1.8 events are expected from background contributions. We measure a tt̄ production cross section of 5.6-1.1^+1.2(stat.)-0.6^+0.9(syst.) pb. © 2005 The American Physical Society.

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Codice UT ISI
	
				WOS:000228490000013
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.71.052003
			
	Codice Scopus
	
				2-s2.0-18444365885
			
	URL
	
				http://scitation.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&amp;id=PRVDAQ000071000005052003000001&amp;idtype=cvips
			
	Appare nelle tipologie:
	
				1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11695/88078

Citazioni

ND

161

153

IRIS Catalogo Istituzionale della Ricerca dell'Università degli Studi del Molise

Measurement of the tt̄ production cross section in pp̄ collisions at √s = 1.96 TeV using lepton + jets events with secondary vertex b -tagging

2005-01-01

Abstract

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

Citazioni

social impact

IRIS Catalogo Istituzionale della Ricerca dell'Università degli Studi del Molise

Measurement of the tt̄ production cross section in pp̄ collisions at √s = 1.96 TeV using lepton + jets events with secondary vertex b -tagging

2005-01-01

Abstract

Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC)

Informazioni

Citazioni

social impact

Conferma cancellazione

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)