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Focused ion beam strategy for nanostructure milling in doped silicon oxide layer for light trapping applications
2014-01-01 La Ferrara, V.; Aneesh, P. M.; Veneri P., Delli; Mercaldo, L. V.; Usatii, I.; Polichetti, T.; Ricciardi, A.; Quero, G.; Cusano, A
Focused ion beam strategy for nanostructure milling in doped silicon oxide layer for light trapping applications
2014-01-01 La Ferrara, V; Aneesh, P M; Delli Veneri, P; Mercaldo, L V; Usatii, I; Polichetti, T; Ricciardi, A; Quero, G; Cusano, A
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Focused ion beam strategy for nanostructure milling in doped silicon oxide layer for light trapping applications | 1-gen-2014 | La Ferrara, V.; Aneesh, P. M.; Veneri P., Delli; Mercaldo, L. V.; Usatii, I.; Polichetti, T.; Ricciardi, A.; Quero, G.; Cusano, A | |
Focused ion beam strategy for nanostructure milling in doped silicon oxide layer for light trapping applications | 1-gen-2014 | La Ferrara, V; Aneesh, P M; Delli Veneri, P; Mercaldo, L V; Usatii, I; Polichetti, T; Ricciardi, A; Quero, G; Cusano, A |
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